摘要
光纤线形测量技术作为一种新兴的精密测量手段，在结构健康监测、智能制造、机器人等领域展现出巨大潜力。
STM32单片机作为一种高性价比的微控制器，凭借其丰富的片上资源和优异的实时性能，为光纤线形测量系统提供了良好的硬件平台。
数据融合技术能够有效整合多源传感器信息，提高测量系统的精度、可靠性和抗干扰能力，成为提升光纤线形测量系统性能的关键。
本文首先阐述光纤线形测量和数据融合技术的基本概念，随后综述了国内外在基于STM32单片机的线形测量系统、光纤传感器信号采集、数据预处理算法和数据融合算法等方面的研究现状，分析了现有研究的优势和不足，最后展望了未来研究方向。
关键词：光纤线形测量；STM32单片机；数据融合；传感器；信号处理
随着科学技术的不断发展，精密测量技术在现代工业和科技领域发挥着越来越重要的作用。
传统的接触式测量方法由于易受电磁干扰、精度受限等缺点，难以满足日益增长的精密测量需求。
光纤线形测量技术利用光纤作为敏感元件，通过检测光信号的变化来感知被测对象的形变信息，具有灵敏度高、抗电磁干扰能力强、测量范围广等优点，近年来在结构健康监测、智能制造、机器人等领域得到越来越广泛的应用[1-4]。
STM32单片机是意法半导体(STMicroelectronics)推出的一款基于ARMCortex-M内核的32位微控制器，具有高性能、低功耗、丰富的片上资源等优点，被广泛应用于各种嵌入式系统中[5-7]。
在光纤线形测量系统中，STM32单片机可以作为核心控制器，完成光纤传感器信号采集、数据处理、系统控制和通信等功能[8-10]。
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